貝士德公司在國(guó)內(nèi)*取得6項(xiàng)測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀相關(guān)*，為國(guó)內(nèi)擁有*項(xiàng)目zui多的公司；
    貝士德公司為國(guó)內(nèi)*符合09年新標(biāo)準(zhǔn)的北京科技園區(qū)*；
    貝士德公司為業(yè)內(nèi)zui早通過ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證的生產(chǎn)性企業(yè)；
    貝士德公司為動(dòng)態(tài)色譜法測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀zui高精度的創(chuàng)造者與保持者；
    貝士德公司是靜態(tài)容量法吸附儀*性和智能化的代表；
測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀特征簡(jiǎn)列：

      ◆具有國(guó)內(nèi)*的一體式原位加熱吹掃裝置；并具有吹掃程序定時(shí)功能；
      （*名稱：具有原位吹掃功能的比表面儀 *號(hào):ZL200920110453.4）
      ◆程控六通閥標(biāo)定系統(tǒng)，國(guó)內(nèi)外*具有定量管體積程控切換功能；
      ◆具有國(guó)內(nèi)*的氮?dú)夥謮荷V法檢測(cè)系統(tǒng)，檢測(cè)精度*達(dá)到0.01%;
      （*名稱:氮?dú)鉂舛葯z測(cè)器 *受理號(hào):200920110455.3）
      ◆具有國(guó)內(nèi)*并*的程控風(fēng)熱助脫系統(tǒng);
      （*名稱：具有吹風(fēng)加熱功能的比表面儀 *號(hào):ZL200920110451.5）
      ◆具有國(guó)內(nèi)*的氣體凈化冷阱功能,使氣體純度提高10倍以上；
      （*名稱：氣體凈化冷阱及比表面儀 *號(hào):ZL200920110450.0）
      ◆具有國(guó)內(nèi)*并*的熱導(dǎo)池檢測(cè)器恒溫系統(tǒng);
      （*名稱：氣體恒溫裝置及比表面儀 *號(hào):ZL200920110454.9）
      ◆在國(guó)內(nèi)*具有粒度模型估算數(shù)據(jù)處理功能，并給出粒度估算報(bào)告；
      ◆儀器參數(shù)大屏幕5英寸LCD液晶顯示；
      ◆具有國(guó)內(nèi)*的液氮溫度監(jiān)測(cè)功能；
      ◆具有國(guó)內(nèi)*的檢測(cè)器氣源開關(guān)指示與保護(hù)裝置；
      ◆貝士德樣品管;
      （*名稱：比表面儀U型樣品管 *號(hào):ZL200920110452.X）

3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀性能參數(shù):
測(cè)試方法： 多功能性,可進(jìn)行BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、Langmuir單點(diǎn)法、固體標(biāo)樣參比法等測(cè)試,統(tǒng)計(jì)層厚法（計(jì)算外比表面積）、粒度估算、樣品BET吸附常數(shù)C等測(cè)試方法；
測(cè)試精度： 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、Langmuir單點(diǎn)法、測(cè)試相對(duì)誤差小于±2%；固體標(biāo)樣參比法測(cè)試相對(duì)誤差小于±1.5%；
測(cè)試范圍： 測(cè)試范圍廣,可測(cè)定比表面積在0.01m2/g以上的范圍內(nèi)的物質(zhì)，滿足所有粉體物質(zhì)及多孔物質(zhì)比表面積的測(cè)試；樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等。
測(cè)試時(shí)間： 測(cè)試時(shí)間:BET多點(diǎn)法,同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品，測(cè)試速度平均每個(gè)樣品每分壓點(diǎn)測(cè)定時(shí)間約5分鐘,平均每個(gè)樣品總用時(shí)約30min；BET單點(diǎn)法,同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品,測(cè)試速度平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約5分鐘；固體標(biāo)樣參比法,同時(shí)可測(cè)試3個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約6分鐘,僅為國(guó)外同類儀器測(cè)試時(shí)間的四分之一；以上測(cè)試時(shí)間不包含樣品吹掃凈化預(yù)處理時(shí)間.

3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀特點(diǎn)簡(jiǎn)介：
吹掃處理： 具有國(guó)內(nèi)*一體式脫氣裝置（非分體式），解決了脫氣、測(cè)試一體化問題，實(shí)現(xiàn)了試樣原位處理，只需一次安裝，與空氣零接觸，保證了樣品預(yù)處理的高效性與有效性；
風(fēng)熱助脫： 具有國(guó)內(nèi)*程控風(fēng)熱助脫裝置，保證得到尖銳快速的脫附峰，減少背景誤差；
定量管程控切換： 具有國(guó)內(nèi)*程控六通閥標(biāo)定系統(tǒng)，動(dòng)作周期小于10毫秒；并且定量管體積程控切換；
檢測(cè)器零漂抑制： 具有國(guó)內(nèi)*檢測(cè)器恒溫系統(tǒng)，使檢測(cè)器10min的漂移試小于0.1mV,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與穩(wěn)定性；
濃度色譜法檢測(cè)： 具有國(guó)內(nèi)*色譜法氮?dú)夥謮簷z測(cè)系統(tǒng)，相對(duì)流量法精度提高10倍，使氮?dú)鉂舛瓤刂凭群蜋z測(cè)精度均達(dá)到萬(wàn)分之一，高穩(wěn)定性；
粒度模型估算： 具有國(guó)內(nèi)*粒度模型估算數(shù)據(jù)處理功能，并給出粒度估算報(bào)告；此功能能夠根據(jù)比表面積給出各個(gè)模型下的平均粒度，對(duì)研究者判斷顆粒形態(tài)起到指導(dǎo)作用；
氣體凈化冷阱： 具有國(guó)內(nèi)*氣體凈化冷阱,使氣體純度提高1個(gè)數(shù)量級(jí)以上；
氣源開關(guān)保護(hù)： 具有國(guó)內(nèi)*氣源開關(guān)指示與保護(hù)裝置，斷氣自動(dòng)斷電，*避免斷氣帶電誤操作對(duì)檢測(cè)器的損害；
吹掃定時(shí)： 具有國(guó)內(nèi)*吹掃定時(shí)功能，定時(shí)精度1秒。倒計(jì)時(shí)完成后自動(dòng)切斷加熱電源，并聲音提示；
溫度監(jiān)測(cè)： 液氮溫度可監(jiān)測(cè),消除普通工業(yè)液氮溫度差異影響,使用條件寬泛；室溫監(jiān)測(cè),消除環(huán)境溫度影響。

3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀儀器配件：
測(cè)試配件： 標(biāo)配高純He、高純N2和氦氮混合氣體3瓶氣體,氣體使用時(shí)間更長(zhǎng),平均使用2年以上；貝士德樣品管,保證測(cè)試精度的同時(shí)使得樣品管裝樣方便并不局限于粉末樣品測(cè)試；
儀器硬件： 硬件采用穩(wěn)定而耐用的部件，關(guān)鍵部件全部采用進(jìn)口配件，經(jīng)過嚴(yán)格檢測(cè)，適合頻繁測(cè)試；

3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀控制系統(tǒng)：
控制系統(tǒng)： 吸附脫附過程全自動(dòng)程序控制,各個(gè)重要環(huán)節(jié)聲音提示；儀器運(yùn)行中操作人員進(jìn)行其他工作或離開也不用擔(dān)心耽誤實(shí)驗(yàn)；
測(cè)試穩(wěn)定： 大屏幕5英寸LCD液晶顯示,各個(gè)機(jī)械部分動(dòng)作指示,使儀器工作狀態(tài)參數(shù)軟件、硬件同時(shí)顯示,即使軟件未打開也可準(zhǔn)確掌握儀器狀態(tài)，使得儀器穩(wěn)定程度更高；
測(cè)試氣路： 采用低溫氮吸附動(dòng)態(tài)色譜法，國(guó)內(nèi)外*并聯(lián)氣路，消除了環(huán)境溫度、濕度、大氣壓力等外界影響，無需抽真空，試驗(yàn)室條件要求相對(duì)寬松；
數(shù)據(jù)處理： 軟件為自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，高采樣頻率100Hz，
全自動(dòng)控制；具有功能完善的比表面數(shù)據(jù)處理能力；USB通訊接口；

3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀售后服務(wù)：
儀器售后： 公司負(fù)責(zé)現(xiàn)場(chǎng)安裝、調(diào)試、操作培訓(xùn)，實(shí)行客戶定期回訪制度，售后服務(wù)周到，客戶面廣，信譽(yù)高。

3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀：
地址：北京市海淀區(qū)上地十街輝煌4棟1915號(hào)（城鐵13號(hào)線-西二旗站）
:86-10-62960251  62960252  82709850  82176110
非工作時(shí)間： 
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3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀發(fā)展歷程：
3H-2000型系列測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀儀器的zui早型號(hào)為HPDAI-88型高效動(dòng)態(tài)吸附儀，依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 10722-2003（原GB/T 10722-1999），該型號(hào)在1988年8月5日通過化工部*鑒定，技術(shù)鑒定證書編號(hào)為：【88】化科鑒定第48號(hào)。經(jīng)過改進(jìn)升級(jí)后3H-2000型系列測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀儀器在2002年12月16日通過國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究中心的計(jì)量檢測(cè)，證書編號(hào)為：計(jì)測(cè)字第 2002-（17）-017。2004年推出BET多點(diǎn)法教學(xué)用3H-2000II型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀;2005年推出3H-2000III型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀;2008年推出的全自動(dòng)智能運(yùn)行的3H-2000A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀,以及BET原理的BET單點(diǎn)法的3H-2000BET-S型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-A型測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀;

3H-2000系列測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀主要功能及應(yīng)用范圍：
主要有化工行業(yè)，如石化、醫(yī)藥、食品、農(nóng)業(yè)、精細(xì)化工等；
環(huán)保領(lǐng)域，如活性炭、分子篩、活性氧化鋁等；
涂料、塑料工業(yè)，如無機(jī)顏料、碳酸鈣、氧化鋅、氧化硅等；
陶瓷材料原料，如氧化鋁、氧化鋯、氧化釔、氮化硅等；
橡塑材料行業(yè)，如炭黑、白炭黑、納米碳酸鈣等；
新型電池材料行業(yè)，如鈷酸鋰、錳酸鋰、石墨等電極材料；粉末粉體材料領(lǐng)域等。

需要采購(gòu)測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀的生產(chǎn)廠家請(qǐng)測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀專業(yè)生產(chǎn)廠家--貝士德儀器科技（北京）有限公司銷售人員。
貝士德儀器科技（北京）有限公司是國(guó)內(nèi)專業(yè)生產(chǎn)測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀和比表面及孔徑分析儀的廠家，在中國(guó)zui早從事氮吸附測(cè)量碳化硅微粉比表面積測(cè)試儀的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、培訓(xùn)等，是北京中關(guān)村科技園認(rèn)定的*。